CMOS memory circuits; SRAM chips;
机译:高度可靠且节能的辐射硬化12T SRAM Cell设计
机译:基于四路交叉耦合,基于锁存器的10T和12T SRAM位单元设计,用于高度可靠的地面应用
机译:具有BL泄漏补偿和位交织能力的强大,亚阈值12T SRAM位点
机译:一种高度可靠的12T SRAM位点设计
机译:使用加速降解测试设计,建模和贝叶斯推断评估高度可靠产品的可靠性
机译:功耗优化的变化感知双阈值SRAM单元设计技术
机译:具有BL泄漏补偿和位交织能力的强大,亚阈值12T SRAM位点
机译:Constellation Ground systems启动可用性分析:增强高度可靠的发射系统设计