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リガクX線応力測定装置と応力解析法のご紹介

机译:LIGAK X射线应力测量装置和应力分析方法的介绍

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摘要

X線回折を用いた応力解析手法は,材料表面に存在する残留応力を非破壊で評価する手法として有効であることは良く知られている.X線応力測定の解析手法として,sin~2 ψ法は最も普及され,工業界で一般的に用いられている解析手法である.本紙では,sin~2 ψ法を始めとするX線応力測定装置の紹介とともに,その他の応力解析手法等を紹介する.
机译:利用X射线衍射的应力分析方法是有效的,作为通过非残子测量材料表面上存在的残留应力的方法是有效的。作为X射线应力测量的分析方法,SIN〜2ψ法律最多受欢迎的,是行业常用的分析方法。在本文中,通过引入包括SIN-2ψ方法的X射线应力测量装置引入其他应力分析方法等。

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