同軸プローブ変化法を用いた電波吸収体の複素電磁パラメータの非破壊測定に関する一検討

摘要

本稿では，高周波電波吸収体の複素誘電率及び複素透磁率を同時に測定可能な非破壊in-situ 測定法「同軸プローブ変化法」を提案し，測定・シミュレーションより，提案した手法の有効性を確認した。今回提案した測定手法に使用した3.5mm のプローブの作製，不確かさの理論計算については，今後の課題とする。謝辞 本研究の一部は日本学術振興会学術研究助成基金助成金(基盤研究(C): 15K06037, 16K06320)の助成を受け，ここに記して謝意を示す。