同軸プローブ変化法を用いた電波吸収体の複素電磁パラメータの非破壊測定に関する一検討

摘要

本稿では，高周波電波吸収体の複素誘電率及び複素透磁 率を同時に測定可能な非破壊in-situ 測定法「同軸プローブ 変化法」を提案し，測定?シミュレーションより，提案し た手法の有効性を確認した。今回提案した測定手法に使用 した3.5mm のプローブの作製，不確かさの理論計算につい ては，今後の課題とする。 謝辞 本研究の一部は日本学術振興会学術研究助成基金助成金(基 盤研究(C): 15K06037, 16K06320)の助成を受け，ここに記して謝 意を示す。