Single Event Testing of SDRAM, DDR2 and DDR3 Memories

机译：SDRAM，DDR2和DDR3存储器的单事件测试

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SEE test results are presented for SDRAM, DDR2, and DDR3. No tested devices exhibited SEL. SBUs were observed, but no MBUs were observed in data words. SEFI data were taken at low and high speed.

机译：提供了针对SDRAM，DDR2和DDR3的SEE测试结果。没有经过测试的设备显示SEL。观察到SBU，但在数据字中未观察到MBU。 SEFI数据以低速和高速获取。

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来源
《IEEE Radiation Effects Data Workshop》|2016年|1-7|共7页
会议地点
作者
Steven M. Guertin; Mehran Amrbar;
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作者单位

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会议组织
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正文语种
中图分类
关键词
Testing; SDRAM; Protons; Performance evaluation; Ions; Sensitivity; Annealing;

机译：测试; SDRAM;质子;性能评估;离子;灵敏度;退火;

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