一种DDR2/DDR3存储器的快速检测方法

摘要

本发明提供一种DDR2/DDR3存储器的快速检测方法，它包括如下步骤：1、首地址写入0xFFFF0000；2、回读；3、回读值与写入值相同，则继续执行；否则报芯片故障，结束检测；4、地址加1，写入值低16位和地址的低16位相同，写入值高16位为低16位的反码；5、回读；6、回读校验，回读值与写入值相同，则继续执行；否则报芯片故障，结束检测；7、循环执行步骤4‑7，直至整片存储器检测完成。本发明的优点是，根据DDR2/DDR3存储器数据在时钟双沿跳变的特点，能够实现所有数据位在时钟沿同时跳变的检测，提高效率的同时，保证了产品的可靠性。