Transistors; Temperature distribution; Logic gates; Cryogenics; Performance evaluation; Oscillators; MOSFET;
机译:采用28nm UTBB FD-SOI技术的具有单端输出摆幅的发送器/转发器前端
机译:需要采用新的ESD验证方法来提高先进的28nm UTBB FD-SOI技术中IC的可靠性
机译:用于量子计算IC的22nm FDSOI CMOS技术的低温特性
机译:28nm全耗尽SOI技术:用于量子计算的低温控制电子设备
机译:低温下环氧树脂的机械测试和评估
机译:在低温下工作的光学纳米纤维和单量子点的混合系统
机译:在28NM UTBB FD-SOI技术中的ULP多核群体的温度和过程感知性能监测和补偿