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【24h】

アナログICとその電源ICからなる回路ためのSパラメータ測定法

机译:用于模拟IC及其电源IC的电路的S参数测量方法

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摘要

マルチチップモジュールの外部端子と直接の接続を持たないモジュール内チップ(DUT)のSパラメータを,外部端子と接続されているチップを介して間接的に測定する一方法を述べている.このような測定はデェンベデイングと呼ばれ,測定値から,DUT以外の特性を取り除くことでDUTの特性を得ている.本文で述べる方法の特長は,測定系が非相反特性を持つ場合にも適用できるところにある.本文では.Sパラメータ推定式の導出とシミュレーシヨンによる検証を述べて,本方法の有効性を確認している.
机译:间接测量模块内芯片(DUT)S参数的方法与多芯片模块的外部端子通过连接到外部端子的芯片间接测量。如此,调用测量折叠,以及从测量值,DUT的特征是通过去除DUT以外的特征来获得的。文本中描述的方法的特征适用于测量系统具有非冲突特性的情况。有一个。在文本中,.S参数估计公式推导和通过模拟验证确认,确认了该方法的有效性。

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