Lead silicate glass; Micro-channel Plate (MCP); Time of Flight (ToF); Secondary electron emission yield (SEEY); Ionized cation;
机译:航天材料上的二次电子发射:通过表面电势测量评估总二次电子产率
机译:CVD金刚石表面的氢终止和电子发射:二次电子发射,光电子发射显微镜,光电子产率和场发射研究的组合
机译:飞行时间散射和反冲光谱法(TOF-SARS)测量LiTaO3(0001)上离子诱导的铁电发射和表面电荷动力学
机译:硅酸铅玻璃表面的电子辐射效应
机译:使用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和原子力显微镜(AFM)表征聚合物表面。
机译:通过飞行时间二次离子质谱法(TOF-SIMS)对聚(环氧乙烷)涂覆聚氨酯表面对聚苯和纤维蛋白原吸附的检测
机译:从SnTe(001)表面镜面反射的0.5-MeV / u H,He和Li离子的二次电子发射:表面走线电势可能会降低半导体表面的二次电子产率