Dielectrics; Electric breakdown; Photonics; Photoelectricity; Surface waves; Atmospheric modeling; Laboratories;
机译:结合气体和真空击穿机理的充气管击穿电压和电击穿延时的研究
机译:高A /金属栅叠层p型金属氧化物硅硅场效应晶体管的阴极电子注入击穿模型和时变介电击穿寿命预测
机译:基于时间的介电击穿模型,用于铜离子引起的场加速低k击穿
机译:在电介质存在下开发PIC-DSMC空气击穿模型:击穿时间对自吸收和光发射的敏感性
机译:VLSI互连可靠性的建模与仿真方法对焦于时间依赖性介电故障
机译:铜低k互连中随时间变化的介电击穿:机理和可靠性模型
机译:介电发射对表面击穿的影响:LDRD报告