首页> 外文会议>IEEE International Symposium on Circuits and Systems >Designing silicon carbide NMOS integrated circuits for wide temperature operation
【24h】

Designing silicon carbide NMOS integrated circuits for wide temperature operation

机译:设计用于宽温度工作的碳化硅NMOS集成电路

获取原文

摘要

Designing integrated circuits using silicon carbide (SiC) MOSFETs for operation in a wide temperature range brings unique challenges that require a good understanding of device characteristics, careful analysis of device-circuit interactions and a fresh look at what the technology can and cannot do. We describe the available devices in General Electric's SiC MOSFET-based technology, and use common-source amplifiers as examples in the context of designing a circuit for a wide temperature range from 25 C to 500 C.
机译:使用碳化硅(SiC)MOSFET设计集成电路以在较宽的温度范围内工作会带来独特的挑战,这些挑战需要对器件特性有充分的了解,需要对器件-电路之间的相互作用进行仔细的分析,并重新审视该技术可以做什么和不能做什么。我们将描述通用电气基于SiC MOSFET的技术中的可用器件,并以共源放大器为例,在为25 C至500 C的宽温度范围设计电路的情况下。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号