机译:Al_2O_3封顶的DRAM外围MOSFET中边界陷阱的低频噪声评估
机译:工艺和背栅偏置条件对绝缘体上超薄埋氧化硅nMOSFET低频噪声的影响
机译:依赖于布局的STI应力和有效宽度对纳米级nMOSFET的低频噪声和高频性能的影响
机译:热预算对DRAM外围NMOSFET的低频噪声的影响
机译:异质材料启发的振动冲击结构的低频声衰减特性
机译:混合系统低频振荡对神经元信号的去噪使用外围测量作为近红外成像中的噪声回归
机译:嵌入式si:C nmOsFET的低频噪声性能研究
机译:相位噪声和热噪声对相干psK解调的影响及其对II期DsCs端子相位噪声规范的影响