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Parametric Inversion of 2-D Dielectric Rough Surface Based on SVM

机译:基于支持向量机的二维介电粗糙面参数反演

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摘要

The inverse scattering of the geometric parameters with the 2-D rough surface is studied in this paper. Relative parameters are estimated by means of a regression technique based on the use of support vector machines (SVM). The Radar Cross-Section (RCS) is used as feature value, after a proper training procedure, the proposed method is able to reconstruct the parameters of the rough surface. Numerical results are provided for the validation of the approach.
机译:本文研究了几何参数与2-D粗糙表面的逆散射。通过基于支持向量机(SVM)的回归技术估计相对参数。雷达横截面(RCS)用作特征值,在适当的训练过程之后,所提出的方法能够重建粗糙表面的参数。提供了用于验证方法的数值结果。

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