Latches; Standards; Substrates; Ions; Logic gates; Transistors; Silicon-on-insulator;
机译:通过基于蒙特卡洛的模拟分析取决于BOX区域厚度和体偏置的65和28 nm FD-SOI工艺中的软错误率
机译:使用计算机模拟在实际系统中使用磁随机存取存储器的嵌入式计算机的软错误容忍度和能耗评估
机译:硬错误和软错误对图形处理单元加速分子动力学模拟的影响的研究
机译:在65 nm FDSOI工艺中,通过具有堆叠结构的锁存器评估了NMOS和PMOS晶体管对软错误的敏感性
机译:在标准测试方法中减轻误差和偏差,用于评估保护性衣服的耐受性危险化学品渗透
机译:评估预批注对批注速度和潜在偏见的影响:在临床试验公告中为自然语言处理金标准开发的临床命名实体识别
机译:α粒子,重离子和高能中子诱导的软误差对FDSOI的触发器诱导的软误差
机译:用于评估个人浮选装置的海水分析人体模型(sWIm)和计算机模拟软件的探索性测试