Elemental analysis; energy dispersive x-ray spectrometry (EDS); scanning electron microscopy (SEM); silicon drift detector - energy dispersive x-ray spectrometer (SDD-EDS); quantitative analysis; x-ray microanalysis;
机译:使用光学显微镜,扫描电子显微镜,能量色散X射线显微分析和二次离子质谱法对五种模拟考古铜合金的微观结构表征
机译:扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散光谱(SEM / SDD-EDS)和NIST DTSA-II对硼化物,碳化物,氮化物,氧化物和氟化物的电子激发X射线定量分析
机译:耳硬化症和范德霍夫综合征的the骨的扫描电子显微镜图像和能量色散X射线显微分析。
机译:扫描电子显微镜/能量分散光谱法固定梁或过扫描X射线微基分析可以错过真实的结构:X射线谱图像映射显示真正的性质
机译:通过与X射线显微分析和图像分析相结合的扫描电子显微镜,对纽约市饮用水水库中悬浮颗粒物的单个颗粒进行分析。
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:使用光学显微镜,扫描电子显微镜,能量色散X射线显微分析和二次离子质谱法对五种模拟考古铜合金的微观结构表征