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Conference on scanning microscopies
Conference on scanning microscopies
召开年:
2013
召开地:
Baltimore, MD(US)
出版时间:
-
会议文集:
-
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1.
Monte Carlo Simulation of X-ray Photoemission Electron Microscopic Image
机译:
X射线电子发射显微图像的蒙特卡洛模拟
作者:
Z. M. Zhang
;
T. Tang
;
S. F. Mao
;
Z. J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Photoemission Electron Microscopy;
Monte Carlo;
Total Electron Yield;
Secondary Electron;
2.
Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive Spectrometry Fixed-beam or Overscan X-ray Microanalysis of Particles Can Miss the Real Structure: X-ray Spectrum Image Mapping Reveals the True Nature
机译:
扫描电子显微镜/能谱仪对粒子的固定束或过扫描X射线显微分析会错过真实结构:X射线光谱图像映射揭示了真实的性质
作者:
Dale E. Newbury
;
Nicholas W. M. Ritchie
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Elemental analysis;
energy dispersive x-ray spectrometry (EDS);
scanning electron microscopy (SEM);
silicon drift detector - energy dispersive x-ray spectrometer (SDD-EDS);
quantitative analysis;
x-ray microanalysis;
3.
Electron microscopy and forensic practice
机译:
电子显微镜和法医实践
作者:
Marek Kotrly
;
Ivana Turkova
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
forensic science;
forensic microscopy;
electron microscopy;
electron microanalysis;
4.
Performance improvement of a large range metrological AFM through parasitic interference feedback artifacts removing by using laser multimode modulation method
机译:
通过使用激光多模调制方法消除寄生干扰反馈伪像来改善大范围计量原子力显微镜的性能
作者:
Qi Li
;
Sitian Gao
;
Wei Li
;
Mingzhen Lu
;
Yushu Shi
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
single longitudinal mode;
optical feedback;
laser hopping;
parasitic interference;
high frequency modulation;
5.
Advances in photo-thermal infrared imaging microspectroscopy
机译:
光热红外成像显微技术的进展
作者:
Robert Furstenberg
;
Chris Kendziora
;
Michael Papantonakis
;
Viet Nguyen
;
Andrew McGill
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Chemical imaging;
Micro-spectroscopy;
Quantum cascade laser;
Photo-thermal;
Laser heating;
Reflectance;
Mie scattering;
Forensics;
6.
A large range metrological atomic force microscope and its uncertainty analysis
机译:
大范围计量原子力显微镜及其不确定度分析
作者:
S. Gao
;
Q. Li
;
W. Li
;
M. Lu
;
Y. Shi
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
metrological AFM;
hanometrology;
grating pitch;
uncertainty budget;
7.
Monte Carlo Study of the Influence of Electron Beam Focusing to SEM Linewidth Measurement
机译:
蒙特卡洛研究电子束聚焦对SEM线宽测量的影响
作者:
P. Zhang
;
S.F. Mao
;
Z.M. Zhang
;
Z.J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
electron beam focusing;
scanning electron microscopy images;
Monte Carlo;
linewidth measurement;
8.
Monte Carlo Simulation of Realistic Beam-Sample Interaction in SEM: Application to Evaluation of Sharpness Measurement Methods
机译:
SEM中真实光束-样品相互作用的蒙特卡洛模拟:在锐度测量方法评估中的应用
作者:
Z. Ruan
;
S. F. Mao
;
P. Zhang
;
H.M. Li
;
Z. J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
sharpness measurement;
SEM images;
Monte Carlo;
beam-sample interaction;
9.
Using the Hitachi TM 3000 in a Middle School Classroom
机译:
在中学教室中使用Hitachi TM 3000
作者:
Mary Ellen Wolfinger
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
10.
Implementing STEM Technology in a Title One Middle School Classroom
机译:
在第一标题中学课堂中实施STEM技术
作者:
Carolyn Holcomb
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
11.
Integrating independent research into science curricula to foster STEM leadership
机译:
将独立研究纳入科学课程,以培养STEM领导力
作者:
Craig Queenan
;
Alyssa Calabro
;
David Becker
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
STEM;
science;
research;
education;
curriculum;
12.
Surface Optical Properties for Copper Based on Surface Kramers-Kroning Analysis
机译:
基于表面Kramers-Kronig分析的铜的表面光学性质
作者:
T. Tang
;
Z. M. Zhang
;
K. Tokesi
;
K. Goto
;
Z. J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
surface excitation;
Kramers-Kronig;
REELS;
surface optical properties;
13.
Does Your SEM Really Tell the Truth? Part 2
机译:
您的SEM真的是真的吗?第2部分
作者:
Michael T. Postek
;
Andras E. Vladar
;
Kavuri P. Purushotham
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
calibration;
measurements;
metrology;
modelling;
contamination;
scanning electron microscope;
SEM;
standards;
reference material;
14.
HTA Educational Outreach Program and Change the Equation Participation
机译:
HTA教育推广计划和改变方程式参与
作者:
Robert Gordon
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Change the Equation;
scanning electron microscope;
SEM;
tabletop;
STEM;
education;
15.
Bringing Students to the Mountain: Developing Partnerships to Introduce Students to Cutting-edge Research
机译:
带学生上山:建立合作伙伴关系,将学生引入前沿研究
作者:
Anne Lynn Gillian-Daniel
;
Robert J. Gordon
;
Benjamin L. Taylor
;
Jon J. McCarthy
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
outreach;
education;
SEM;
K-12;
materials science;
16.
Advances in photo-thermal infrared imaging microspectroscopy
机译:
光热红外成像微型光谱检查的进步
作者:
Robert Furstenberg
;
Chris Kendziora
;
Michael Papantonakis
;
Viet Nguyen
;
Andrew McGill
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Chemical imaging;
Micro-spectroscopy;
Quantum cascade laser;
Photo-thermal;
Laser heating;
Reflectance;
Mie scattering;
Forensics;
17.
A large range metrological atomic force microscope and its uncertainty analysis
机译:
大型计量原子力显微镜及其不确定性分析
作者:
S. Gao
;
Q. Li
;
W. Li
;
M. Lu
;
Y. Shi
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
metrological AFM;
hanometrology;
grating pitch;
uncertainty budget;
18.
Monte Carlo Study of the Influence of Electron Beam Focusing to SEM Linewidth Measurement
机译:
蒙特卡罗对电子束聚焦对SEM线宽测量影响的研究
作者:
P. Zhang
;
S.F. Mao
;
Z.M. Zhang
;
Z.J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
electron beam focusing;
scanning electron microscopy images;
Monte Carlo;
linewidth measurement;
19.
Monte Carlo Simulation of Realistic Beam-Sample Interaction in SEM: Application to Evaluation of Sharpness Measurement Methods
机译:
蒙特卡洛仿真在SEM中的逼真梁样品互动:应用于评估锐度测量方法
作者:
Z. Ruan
;
S. F. Mao
;
P. Zhang
;
H.M. Li
;
Z. J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
sharpness measurement;
SEM images;
Monte Carlo;
beam-sample interaction;
20.
Three-dimensional Characterization of Gd Nanoparticles using STEM-in-SEM Tomography in a DualBeam FIB-SEM
机译:
使用茎纳米粒子的三维表征在Dualbeam Fib-Sem中使用茎型SEM层析成像
作者:
Brandon Van Leer
;
Cedric Bouchet-Marquis
;
Huikai Cheng
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
STEM;
TSEM;
STEM-in-SEM;
FIB;
tomography;
SEM;
scanning electron microscope;
FIB;
nanoparticles;
21.
Does Your SEM Really Tell the Truth?-How Would You Know? Part 4: Charging and its Mitigation
机译:
你的sem真的说实话吗? - 你会知道吗?第4部分:充电及其缓解
作者:
Michael T. Postek
;
Andras E. Vladar
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
calibration;
charging;
measurements;
metrology;
modelling;
scanning electron microscope;
SEM;
standards;
reference materials;
22.
Electron-Excited Energy Dispersive X-ray Spectrometry in the Variable Pressure Scanning Electron Microscope (EDS/VPSEM): It's Not Microanalysis Anymore!
机译:
在可变压力扫描电子显微镜(EDS / VPSEM)中的电子激发能量分散X射线光谱法:它不再是微观分析!
作者:
Dale E. Newbury
;
Nicholas W. M. Ritchie
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
DTSA-Ⅱ;
elemental analysis;
energy dispersive x-ray spectrometry (EDS);
scanning electron microscopy (SEM);
silicon drift detector - energy dispersive x-ray spectrometer (SDD-EDS);
quantitative analysis;
x-ray microanalysis;
variable pressure scanning electron microscopy (VPSEM);
23.
Photomask Linewidth Comparison by PTB and NIST
机译:
PTB和NIST的Photomask LineWidth比较
作者:
D. Bergmann
;
B. Bodermann
;
H. Bosse
;
E. Buhr
;
G. Dai
;
R. Dixson
;
W. Haesser-Grohne
;
K. Hahm
;
M. Wurm
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
linewidth;
CD metrology;
uncertainty components;
Nanol;
international comparison;
MRA;
photomask;
24.
Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive Spectrometry Fixed-beam or Overscan X-ray Microanalysis of Particles Can Miss the Real Structure: X-ray Spectrum Image Mapping Reveals the True Nature
机译:
扫描电子显微镜/能量分散光谱法固定梁或过扫描X射线微基分析可以错过真实的结构:X射线谱图像映射显示真正的性质
作者:
Dale E. Newbury
;
Nicholas W. M. Ritchie
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Elemental analysis;
energy dispersive x-ray spectrometry (EDS);
scanning electron microscopy (SEM);
silicon drift detector - energy dispersive x-ray spectrometer (SDD-EDS);
quantitative analysis;
x-ray microanalysis;
25.
Electron microscopy and forensic practice
机译:
电子显微镜和法医实践
作者:
Marek Kotrly
;
Ivana Turkova
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
forensic science;
forensic microscopy;
electron microscopy;
electron microanalysis;
26.
Performance improvement of a large range metrological AFM through parasitic interference feedback artifacts removing by using laser multimode modulation method
机译:
通过使用激光多模调制方法去除寄生干扰反馈工件的大范围计量AFM的性能改进
作者:
Qi Li
;
Sitian Gao
;
Wei Li
;
Mingzhen Lu
;
Yushu Shi
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
single longitudinal mode;
optical feedback;
laser hopping;
parasitic interference;
high frequency modulation;
27.
SEM/EDS analysis for problem solving in the food industry
机译:
食品工业问题解决问题的SEM / EDS分析
作者:
Wayne D. Niemeyer
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
forensic analysis;
food contamination;
elemental composition;
wear particles;
material identification;
28.
Lateral Tip Control Effects in CD-AFM Metrology: The Large Tip Limit
机译:
CD-AFM计量中的横向尖端控制效果:大尖端限制
作者:
Ronald Dixson
;
Ryan S. Goldband
;
Ndubuisi G. Orji
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
CD-AFM;
dither;
metrology;
CD;
linewidth;
tip width;
calibration;
29.
Integrating independent research into science curricula to foster STEM leadership
机译:
将独立研究整合到科学课程中,促进干期领导
作者:
Craig Queenan
;
Alyssa Calabro
;
David Becker
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
STEM;
science;
research;
education;
curriculum;
30.
How a lesson on microscopes supports learning about light in elementary schools
机译:
显微镜上的教训是如何支持学习小学的光明
作者:
Joyce Allen
;
Nancy Healy
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
microscopes;
magnification;
optical microscopes;
scanning electron microscopes;
K-12 education;
31.
Sub-diffraction-limit imaging using mode multiplexing
机译:
使用模式复用的子衍射限制成像
作者:
Nan Wang
;
Jinping He
;
Jun Miyazaki
;
Hiromichi Tsurui
;
Takayoshi Kobayashi
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
subtraction microscopy;
multicolor imaging;
quantum dot;
mode multiplexing;
fluorescence imaging;
32.
Using a University Characterization Facility to Educate the Public about Microscopes: Light microscopes to SEM
机译:
使用大学特征设施来教育公众关于显微镜:光学显微镜到SEM
作者:
Nancy Healy
;
Walter Henderson
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
Education;
public outreach;
microscopes;
33.
A Novel Approach to TEM Preparation with a (7-Axis Stage) Triple Beam FIB-SEM System
机译:
具有(7轴级)三梁FIB-SEM系统的TEM准备方法
作者:
Jamil J. Clarke
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
Hitachi;
FIB-SEM;
lamella;
TEM;
Preparation;
Thinning;
low kV;
ion;
34.
SPM metrological assurance using a heterodyne interferometer
机译:
使用外差干涉仪的SPM计量保证
作者:
T. V. Kazieva
;
A. P. Kuznetsov
;
K. L. Gubskiy
;
V. N. Reshetov
;
M.V. Ponarina
;
A.S. Antonov
;
A.S. Useinov
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
nanometrology;
scanning probe microscope;
three-coordinate laser interferometer;
35.
Implementing STEM Technology in a Title One Middle School Classroom
机译:
在一个中学教室的标题中实施词干技术
作者:
Carolyn Holcomb
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
36.
Using the Hitachi TM 3000 in a Middle School Classroom
机译:
在中学课堂上使用日立TM 3000
作者:
Mary Ellen Wolfinger
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
37.
Bringing Students to the Mountain: Developing Partnerships to Introduce Students to Cutting-edge Research
机译:
将学生带到山区:制定伙伴关系,向尖端研究引入学生
作者:
Anne Lynn Gillian-Daniel
;
Robert J. Gordon
;
Benjamin L. Taylor
;
Jon J. McCarthy
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
outreach;
education;
SEM;
K-12;
materials science;
38.
Surface Optical Properties for Copper Based on Surface Kramers-Kroning Analysis
机译:
基于表面kramers-Kronig分析的铜表面光学性能
作者:
T. Tang
;
Z. M. Zhang
;
K. Tokesi
;
K. Goto
;
Z. J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
surface excitation;
Kramers-Kronig;
REELS;
surface optical properties;
39.
Does Your SEM Really Tell the Truth? Part 2
机译:
你的sem真的说实话吗?第2部分
作者:
Michael T. Postek
;
Andras E. Vladar
;
Kavuri P. Purushotham
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
calibration;
measurements;
metrology;
modelling;
contamination;
scanning electron microscope;
SEM;
standards;
reference material;
40.
Monte Carlo Simulation of X-ray Photoemission Electron Microscopic Image
机译:
X射线照相机电子显微图像的蒙特卡罗模拟
作者:
Z. M. Zhang
;
T. Tang
;
S. F. Mao
;
Z. J. Ding
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Photoemission Electron Microscopy;
Monte Carlo;
Total Electron Yield;
Secondary Electron;
41.
Investigation of Electron Beam Irradiation Effect on Pore Formation
机译:
电子束辐照对孔隙形成的研究
作者:
Seong Soo Choi
;
Myoung Jin Park
;
Chul Hee Han
;
Sung In Kim
;
Jung Ho Yoo
;
Kyung Jin Park
;
Nam Kyou Park
;
Yong-Sang Kim
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
nanopore;
scanning area;
scan rate;
electron energy absorption;
thermal diffusivity;
biosensor;
42.
Continuous monitoring of tip radius during atomic force microscopy imaging
机译:
原子力显微镜成像期间的尖端半径连续监测
作者:
J. Fraxedas
;
F. Perez-Murano
;
F. Gramazio
;
M. Lorenzoni
;
E. Rull Trinidad
;
U. Staufer
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
atomic force microscopy;
amplitude modulation;
tip monitoring;
higher harmonics;
computer simulations;
polymers;
43.
Hitachi TM3030 engages at the nexus of cross-curriculum teaching and vertical articulation
机译:
Hitachi TM3030参与了跨课程教学和垂直关节的Nexus
作者:
D. Menshew
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
Hitachi;
TM3030;
SEM;
education;
Enochs High School;
cross-curriculum;
engagement;
partnerships;
44.
Exploration of mXRF analysis of gunshot residue from cartridge cases
机译:
弹药筒枪支残渣MXRF分析探讨
作者:
Martin Janssen
;
Amalia Stamouli
;
Alwin Knijnenberg
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
关键词:
gunshot residue (GSR);
x-ray fluorescence (XRF);
elemental composition;
screening tool;
forensic science;
45.
HTA Educational Outreach Program and Change the Equation Participation
机译:
HTA教育外展计划并改变等式参与
作者:
Robert Gordon
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2013年
关键词:
Change the Equation;
scanning electron microscope;
SEM;
tabletop;
STEM;
education;
46.
A compilation of cold cases using scanning electron microscopy at the University of Rhode Island
机译:
罗德岛大学使用扫描电子显微镜的冷箱的汇编
作者:
Michael J. Platek
;
Otto J. Gregory
会议名称:
《Conference on scanning microscopies》
|
2015年
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