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Local characterization of photonic structures by near-field scanning optical microscopy and spectral interferometry

机译:通过近场扫描光学显微镜和光谱干涉法对光子结构进行局部表征

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摘要

We combine a near-field scanning optical microscope (NSOM) with crossed beam spectral interferometry, to enable a full local optical characterization of photonic structures.
机译:我们将近场扫描光学显微镜(NSOM)与交叉光束光谱干涉术相结合,以实现光子结构的完整局部光学表征。

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