phase changing circuits; random-access storage; 8 Mbit; BJT-selected PCM demonstrator; SET condition; SET distributions; cell distributions; cell physical parameters; cell programming curve; phase-change memories; program pulse; read margin; set-sweep programming pu;
机译:相变存储器中电流脉冲诱导的2位/ 4状态多级编程的可行性研究
机译:通过阶梯形脉冲编程可自由实现相变存储器的多层存储的可能性
机译:相变存储器中编程和读取性能的建模—第二部分:程序干扰和混合缩放方法
机译:用于相位变更存储器的SET-SWEEP编程脉冲
机译:可靠,安全的相变存储器作为主存储器。
机译:通过微环境记忆进行细胞重编程和去编程:为何短TGF-β1脉冲可产生长效作用
机译:通过增强的不对称感应热电效应在垂直纳米柱相变存储单元中减少编程电流