Integrated circuits; Low power testing; Scan testing; X-amp; #64257; capture power; design for testability; lling;
机译:X-Filling可在基于扫描的高速测试中同时降低移位和捕获功率
机译:MTR-Fill:一种基于模拟退火的X填充技术,可减少基于扫描的设计的测试功耗
机译:XStat:统计X填充算法,可降低扫描测试中的峰值捕获功率
机译:CSP填充:一种新的X填充技术,可减少测试应用中的捕获和换档电源
机译:降低制造测试成本的技术:测试模式选择,测试压缩和测试计划
机译:应用质量改进技术减少国家肠道衰竭单位的肠胃外营养浪费
机译:iFill:一种基于冲击的X填充方法,用于在基于速度扫描的测试中减少移位和捕获功率
机译:使用模幂的幂级数展开来在动态测试的释放曲线之间进行插值:技术和应用