首页> 外文会议>2011 3rd IEEE International Memory Workshop >A Novel FN Erasable Undercut Device Containing Two Physically Separated Nitride Storage Nodes Per Cell Suitable for Advanced NOR Flash Memory Technology
【24h】

A Novel FN Erasable Undercut Device Containing Two Physically Separated Nitride Storage Nodes Per Cell Suitable for Advanced NOR Flash Memory Technology

机译:一种新颖的FN可擦除底切设备,每个单元包含两个物理上分开的氮化物存储节点,适用于先进的NOR闪存技术

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