Double faults; scan circuits; transition faults; undetectable faults;
机译:使用停留测试形成标准扫描电路中过渡故障的基于扫描的测试
机译:全扫描电路中无法检测到的单次卡死故障的聚类和测试质量
机译:在标准扫描电路中测试路径延迟故障所需的输入必要分配
机译:关于标准扫描电路中未检测到的过渡故障的聚类
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:故障的鲁棒性促进了可扩展性:不断发展的数字电路的见解
机译:关于部分扫描电路中不可检测的故障
机译:桥接故障的不可检测性和卡住故障测试装置的有效性