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磁性薄膜を集積化したICチップにおけるイントラ/インターデカップリング測定法

机译:具有集成磁性薄膜的ic芯片的内部/去耦测量方法

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摘要

高い透磁率を有する磁性薄膜はICチップレベルにおける伝導ノイズ対策に有用である.これに加えて,磁 性薄膜はICチップレベルにおけるイントラ/インターデカップリングにも有用と思われる.したがって,.本論文ではその 測定法をIEC規格で定められたノイズ抑制シートの評価方法を参考に考案し,実測を通してその有用性を示したので 報告する.
机译:具有高导磁率的磁性薄膜可以用来对付IC芯片级的传导噪声,此外,磁性薄膜还可以用于IC芯片级的内部/内部去耦。参考IEC标准定义的噪声抑制表的评估方法,设计了测量方法,并通过实际测量报告了其有用性。

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