Abrasives; Chemical mechanical polishing; Conditioning, Mathematic model; Pad surface shape; Semiconductor materials;
机译:化学机械平坦化(CMP)中的金刚石盘垫修整:一种预测垫板表面形状的表面元素方法
机译:化学机械抛光中的抛光垫调节:调节密度分布模型以预测抛光垫表面形状
机译:金刚石修整剂对钨化学机械抛光中垫表面高度分布的影响
机译:化学机械平面化(CMP)中的金刚石圆盘垫处理:一种预测垫面形状的数学模型
机译:使用总体平衡模型对化学机械抛光中的垫磨损和垫修整进行建模。
机译:调节剂类型和下压力以及垫表面的微观结构对SiO2化学机械平面化性能的影响
机译:用于控制化学机械抛光垫轮廓形状的调节过程的运动预测及实验证明