溶接始終端部に発生する欠陥の実態調査(その5. 誤差の要因分析と探傷時の留意点)

摘要

本報では、その4に引き続き同時端部エコー法による欠陥高さ測定における誤差要因を分析し、探傷時の留意点を整理する。同時端部エコー法は、欠陥の上下における先端エコーのビーム路程差△Wから欠陥高さを求める方法であるが,エコー高さは図-2.1のように欠陥の隙間g、欠陥長さL及びビーム路程Wなどによって変化し、欠陥長さLが5mm以下では，ビーム路程Wが速く，長さLが短いほど、また隙閱gが狭いほどエコー高さが低下する。