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The following topics are dealt with:IC physical design; circuit design;SOC, NOC, and application design;fault tolerance & failure analysis;FPGA & reconfigurable computing; test generation, BIST, and memory testing;emerging technology & formal verification.
机译:涉及以下主题:IC物理设计;电路设计; SOC,NOC和应用程序设计;容错和故障分析; FPGA和可重构计算;测试生成,BIST和内存测试;新兴技术和形式验证。

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