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2010 5th International Design and Test Workshop

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4.Welcome message from the chairs

机译：主席致辞
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6.Conference inauguration speech

机译：会议就职演说
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7.Conference keynote addresses

机译：会议主题演讲
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8.Conference invited talks

机译：会议邀请演讲
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9.Panel session

机译：小组会议
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14.Session 1.1: IC physical design circuit design

机译：分会1.1：IC物理设计与电路设计
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
15.Session 2.1: Fault tolerance failure analysis

机译：分会2.1：容错和故障分析
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
16.Session 3.1: Test generation, BIST, and memory testing

机译：课程3.1：测试生成，BIST和内存测试
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
17.Session 1.2: SOC, NOC, and application design

机译：专题1.2：SOC，NOC和应用程序设计
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
18.Session 2.2: FPGA reconfigurable computing

机译：专题2.2：FPGA和可重构计算
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
19.Session 3.2: Emerging technologies formal verification

机译：分会3.2：新兴技术与形式验证
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
20.An automated design methodology for stress avoidance in analog mixed signal designs

机译：用于避免模拟和混合信号设计中压力的自动化设计方法
- 作者：Sameer R.;Mohieldin A.N.;Eissa H.M.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
21.Improving timing characteristics through Semi-Random Net Reordering

机译：通过半随机网络重新排序改善时序特性
- 作者：Soudan B.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
22.A DFM tool for analyzing lithography and stress effects on standard cells and critical path performance in 45nm digital designs

机译：一种DFM工具，用于分析45nm数字设计中光刻和应力对标准单元的影响以及关键路径性能
- 作者：Salem R.F.;ElMously A.;Eissa H.;Dessouky M.;Anis M.H.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
23.A design for reliability methodology based on selective overdesign

机译：基于选择性过度设计的可靠性方法设计
- 作者：Askari S.;Nourani M.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- Analog Circuits;
- Channel Hot Career;
- Negative/Positive Bias Temperature Instability;
- Overdesign;
- Process variation;
- Redundancy;
- Reliability;
24.Cost-free low-power test in compression-based reconfigurable scan designs

机译：基于压缩的可重配置扫描设计中的免费低成本低功耗测试
- 作者：Almukhaizim S.;Mohammad M.;AlQuraishi E.
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26.Worst-case test vectors generation using genetic algorithms for the detection of total-dose induced leakage current failures

机译：使用遗传算法生成最坏情况的测试向量，以检测总剂量引起的泄漏电流故障
- 作者：Abdel-Aziz H.A.;Abdel-Aziz M.M.;Wassal A.G.;Abou-Auf A.A.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- CMOS;
- GA;
- Genetic Algorithm;
- leakage current;
- test vectors;
- total dose;
- worst-case;
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29.ECC design for fault-tolerant crossbar memories: A case study

机译：容错交叉开关存储器的ECC设计：案例研究
- 作者：Haron N.Z.;Hamdioui S.;Ahyadi Z.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
30.On NOR-2 von Neumann multiplexing

机译：关于Neumann复用的NOR-2
- 作者：Ibrahim W.;Beiu V.;Beg A.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
31.Voltage island design in multi-core SIMD processors

机译：多核SIMD处理器中的电压岛设计
- 作者：Majzoub S.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
32.Area efficient-high throughput sub-pipelined design of the AES in CMOS 180nm

机译：CMOS 180nm区域高效高通量子流水线设计的AES
- 作者：Almaaitah A.;Abid Z.-E.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
33.Design and implementation of low latency network interface for network on chip

机译：片上网络的低延迟网络接口的设计与实现
- 作者：Attia B.;Chouchene W.;Zitouni A.;Nourdin A.;Tourki R.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- Network Interface;
- Network on Chip;
- System on Chip;
34.Soft-core reduction methodology for SIMD architecture: OPENRISC case study

机译：SIMD架构的软核简化方法：OPENRISC案例研究
- 作者：Dammak B.;Baklouti M.;Abid M.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
35.Routability driven placement for mesh-based FPGA architecture

机译：基于网格的FPGA架构的可布线性驱动布局
- 作者：Turki M.;Abid M.;Marrakchi Z.;Mehrez H.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- Area;
- Congestion;
- FPGA;
- Placement;
36.Reconfigurable low-power Concurrent Error Detection in logic circuits

机译：逻辑电路中的可重构低功耗并发错误检测
- 作者：Almukhaizim S.;Bunian S.;Sinanoglu O.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
37.Prediction performance method for dynamic task scheduling, case study: the OLLAF Architecture

机译：动态任务调度的预测性能方法，案例研究：OLLAF体系结构
- 作者：Ktata I.;Ghaffari F.;Granado B.;Abid M.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- Dynamically Reconfigurable Architecture;
- OLLAF;
- predictive scheduling;
- uncertainty variation;
38.A novel conflict directed jumping algorithm for hardware-based SAT solvers

机译：一种基于硬件的SAT求解器的新型冲突定向跳跃算法
- 作者：Safar M.;Shalan M.;El-Kharashi M.W.;Salem A.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
39.Identification of IR-drop hot-spots in defective power distribution network using TDF ATPG

机译：使用TDF ATPG识别故障配电网络中的IR下降热点
- 作者：Junxia Ma;Tehranipoor M.;Sinanoglu O.;Almukhaizim S.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- ATPG;
- IRdrop;
- Open Defect;
- Power Distribution Network;
40.MBIST architecture framework based on orthogonal constructs

机译：基于正交构造的MBIST体系结构框架
- 作者：van de Goor A.J.;Hamdioui S.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- March Element;
- Memory BIST;
- complex operation;
- nested operations;
- orthogonal constructs;
41.Parasitic memory effect in CMOS SRAMs

机译：CMOS SRAM中的寄生存储效应
- 作者：Irobi S.;Al-Ars Z.;Renovell M.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
42.Hierarchical synthesis of reversible circuits using positive and negative Davio decomposition

机译：使用正负Davio分解的可逆电路分层综合
- 作者：Soeken M.;Wille R.;Drechsler R.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
43.SAT-based ATPG for reversible circuits

机译：基于SAT的可逆电路的ATPG
- 作者：Hongyan Zhang;Wille R.;Drechsler R.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
44.Performance and bandwidth optimization for biological sequence alignment

机译：生物序列比对的性能和带宽优化
- 作者：Hasan L.;Al-Ars Z.;Taouil M.;Bertels K.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- FPGAs;
- Memory Bandwidth;
- Performance Gain;
- Sequence Alignment;
- Smith-Waterman Algorithm;
45.Mapping SMV models to event-B models

机译：将SMV模型映射到事件B模型
- 作者：Hassan S.;Taher M.;Wahba A.M.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- Event-B;
- Formal methods;
- Model checking;
- NuSMV;
- RODIN;
46.High speed low power composite field SBOX

机译：高速低功率复合场SBOX
- 作者：Elazm L.A.;El-Moursy M.A.;Elsimary H.;Dessouky M.I.;Shawki F.
- 会议名称：《2010 5th International Design and Test Workshop》 | 2010年
- Advanced Encryption Standard;
- Composite Galois field;
- Low power;
- SBOX;
- Transmission gate;
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