首页> 外文会议>2010 IEEE International SOI Conference >Timing verification of a 45nm SOI standard cell library
【24h】

Timing verification of a 45nm SOI standard cell library

机译:45nm SOI标准单元库的时序验证

获取原文

摘要

A reliable timing verification methodology has been developed and proven on a 45nm SOI standard cell library. This methodology is currently used at more advanced process nodes.
机译:已经开发出了可靠的时序验证方法,并已在45nm SOI标准单元库中得到了证明。该方法当前用于更高级的过程节点。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号