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Simulation of PIN Diode Under Electromagnetic Pulse Based on Decision Tree

机译:基于决策树的电磁脉冲下PIN二极管的仿真

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摘要

The Electromagnetic pulse probably disturbs the normal operation of the PIN diode temporarily ,or even damages the PIN diode permanently.Unlike just studying a certain aspect on the impact of the PIN diode in the other papers,the approach of decision trees is adopted to reveal the relationship between the extent of the PIN diode damage and the parameters (the rise time,width,and voltage) of electromagnetic pulse in an all-round manner.Besides,using decision tree to classify the degree of the PIN diode damage can save simulation time.
机译:电磁脉冲可能会暂时干扰PIN二极管的正常工作,甚至永久损坏PIN二极管。与其他论文中仅研究PIN二极管的影响的某个方面不同,采用决策树的方法来揭示PIN二极管的影响。 PIN二极管损坏程度与电磁脉冲参数(上升时间,宽度和电压)之间的关系具有全面的关系。此外,使用决策树对PIN二极管损坏的程度进行分类可以节省仿真时间。

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