built-in self test; integrated circuit testing; high-speed integrated circuits; integrated circuit design; integrated memory circuits; logic testing; modular wrapper design; high speed BIST controller; high speed BISR; small wide memories; register files; FIFO; high speed applications; wrapper at-speed test; test controller; integrated circuit testing; logic testing;
机译:具有顶级BIST算法的多内存分组包装器
机译:使用低速和低内存测试仪诊断全速扫描BIST电路
机译:模块化吸引人记忆网络中的双稳态,不规则射击和种群振荡
机译:一个模块化包装器,可实现高速BIST和用于小宽忆的修复
机译:新的内存BIST和修复方法。
机译:模块化吸引子存储网络中的双稳态不规则射击和种群振荡
机译:模块化吸引子存储网络中的双稳态,不规则射击和种群振荡