photodiodes; p-i-n photodiodes; dislocations; thermal expansion; electron-hole recombination; buffer layers; indium compounds; III-V semiconductors; drift dominated structure; defected materials; photodetector; photodiodes; dislocation density; lattice mismatch; thermal expansion coefficient difference; recombination centers; large electric field photo-active regions; quantum efficiency; lattice matching; buffer layer; p-i-n structure; InP-GaP-Si;
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