Avalanche breakdown; Bipolar transistors; Electric variables measurement; Impact ionization; Safe-operating-area; SiGe HBT BiCMOS technology;
机译:雪崩乘法和收缩模型,用于模拟SiGe HBT中的电不稳定效应
机译:SiGe HBT中的共基雪崩不稳定性
机译:先进的UHV / CVD SiGe HBT中的集电极-基结雪崩倍增效应
机译:导致高级SiGe HBT中共基雪崩不稳定性的因素分析
机译:SiGe HBT的功率衍生热表征和使用锁相环的定时电路设计。
机译:腰椎管减压症术后腰椎不稳的影响因素分析
机译:有助于慢性踝关节不稳定的因素:系统评论的系统审查和荟萃分析
机译:siGe HBT中寄生导带屏障形成的器件物理分析