首页> 外文会议>Electron Devices Meeting, 1999. IEDM Technical Digest. International >Predictive BSIM3v3 modeling for the 0.15-0.18 /spl mu/m CMOS technology node: a process DOE based approach
【24h】

Predictive BSIM3v3 modeling for the 0.15-0.18 /spl mu/m CMOS technology node: a process DOE based approach

机译:适用于0.15-0.18 / spl mu / m CMOS技术节点的预测BSIM3v3建模:基于过程DOE的方法

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摘要

An efficient and accurate approach using the BSIM3v3 compact model to support concurrent process technology development and circuit design is presented. The key feature is the ability to generate accurate pre-silicon BSIM3 models for new technologies taking into account process information from existing technologies. Device, circuit and process optimization results are presented.
机译:提出了一种使用BSIM3v3紧凑模型来支持并行工艺技术开发和电路设计的有效且准确的方法。关键功能是能够为新技术生成准确的硅前BSIM3模型,同时考虑到现有技术中的过程信息。给出了器件,电路和工艺的优化结果。

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