Temperature measurement; II-VI semiconductor materials; Cadmium compounds; Grain boundaries; Temperature; Luminescence; Grain size;
机译:通过空间分辨阴极发光很好地揭示了经热处理的AlGaInAs量子中缺陷演化的微观视图
机译:Al掺杂单晶Ba_(0.6)Sr_(0.4)TiO_3薄膜的光谱分辨微探针阴极发光研究
机译:通过空间分辨阴极发光法对堆叠的元素层进行快速热处理而制成的硅藻土薄膜的表征
机译:使用空间/光谱分辨的阴极发光光谱法深入残余应力评估Si衬底上的ZnO薄膜
机译:多晶金属薄膜中皮秒持续时间热弹性瞬态的定量分析。
机译:通过空间分辨阴极发光很好地揭示了经热处理的AlGaInAs量子中缺陷演化的微观视图
机译:瞬态光电流作为硅薄膜中载流子传输和缺陷分布的空间分辨探针