Films; Annealing; Platinum; Substrates; Resistance; Silicon; Atmosphere;
机译:Al-Ti-Si和Al-Ti-SiO_x-Si系统中n和p硅上铝膜的结构和晶体学取向。
机译:取向对Bi <3.15 Subscript> Nd <0.85 Tiscript> Ti <2.99 Subscript> Mn <0.01> O
机译:不同薄层电阻的LaNiO3底部电极上(Pb,La)(Zr,Sn,Ti)O3反铁电薄膜的介电性能的温度和频率依赖性
机译:不同气氛中温度处理对硅Pt / Ti薄膜晶体取向和薄膜电阻的影响
机译:晶体取向对热循环大晶粒锡膜中小丘形成的影响。
机译:取向对Bi3.15Nd0.85Ti2.99Mn0.01O12薄膜在低温和高温下的极化转换和疲劳的影响
机译:Ti胶层插入Ti胶膜Pt膜Pt膜的粘合性提高及其对Pt膜的电阻温度系数的影响。