Zinc oxide; II-VI semiconductor materials; Aluminum gallium nitride; Nanobioscience; Wide band gap semiconductors; Nanoscale devices; HEMTs;
机译:使用非极性a面GaN衬底上的HFET和c-GaN衬底上的p-GaN栅极来测量GaN基HFET的电流崩溃-常关型JHFET
机译:使用非极性a面GaN衬底上的HFET和c-GaN衬底上的p-GaN栅极来测量GaN基HFET的电流崩溃-常关型JHFET
机译:基于GaN的HFET盲电流塌陷测量:常关JHFET,在非极性a面GaN衬底上使用HFET,在c-GaN衬底上使用p-GaN栅极
机译:用于呼吸监测的GaN HFET传感器
机译:为改善AlGaN / GaN MOS-HFET中的阈值电压稳定性和电流崩塌抑制而研究ALD介电材料的研究。
机译:Algan / GaN HFET和VO的调查
机译:AlGaN / GaN HFET的鳍和岛隔离以及AlGaN / GaN HFET的漏电流特性随温度变化的模型