机译:Holystone为电力电子应用提供陶瓷贴片电容器
机译:使用Lognormal方法使用电容器测试板的陶瓷电容器的高度加速寿命测试,并与PLM解决方案集成
机译:使用非参数方法加速纳米陶瓷电容器和电容器测试板的寿命测试
机译:电力电子应用陶瓷电容器的寿命测试方法
机译:基于门控信号平均方法的新型接口,可对电力电子应用中的数字控制器进行精确的硬件在环测试。
机译:重复事件时间参数模型中离散协变量检验的估计方法和检验能力的评估:应用于应用米葡糖酶治疗的Gaucher患者
机译:用于逆变器应用的金属化薄膜电容器的寿命测试
机译:电容器测试,评估。在Nasa电子零件和包装(NEpp)计划中进行建模。 “为什么手工焊接过程中陶瓷电容器会断裂以及如何避免故障”