McSwiggen Associates, 2855 Anthony Lane, St. Anthony, MN 55418 PMcS@McSwiggen.com;
rnJEOL Ltd., 1-2 Musashino, 3 Akishima, Tokyo 196-8558 JAPAN;
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rn JEOL USA, Inc., 11 Dearborn Road Peabody MA 01960;
机译:能量色散X射线微分析中电子束加速电压的估计方法:在晶片制造失败分析中的应用
机译:短期施用铝后,在高加速电压下进行X射线显微分析,检测小鼠肾脏中的铝累积。
机译:在生物样品的半薄部分以高加速电压通过能量色散X射线微分析法检测铝。
机译:SEM中的低压成像和X射线微基分析:挑战和机遇
机译:相对X射线谱线强度及其在单个标准程序中的应用,用于对大体积样品和薄膜进行定量X射线微分析。
机译:用于低压扫描电子显微镜的定量电子探针X射线显微分析的障碍
机译:使用Lα和LβX射线线在低加速电压下FE定量电子探针微分析
机译:基于NBs(国家标准局)sRm(标准参考物质)484修改的低加速电压间距标准