Nanostructures; conductive atomic force microscopy; focused ion beam; ohmic contact; zinc oxide;
机译:FIB处理的金属层的电学特性,用于在ZnO微结构上可靠地进行导电AFM
机译:ZnO纳米柱表面诱导的p型电导率的扫描探针显微镜研究
机译:电子和能源材料的导电扫描探针表征和纳米图案化
机译:用于FIB机加工ZnO纳米粒子的可靠导电扫描探头探头的途径
机译:对扫描声显微镜发出的超声场进行建模,以可靠地表征病原体(生物材料)。
机译:BiFeO3纳米线的微区铁电压电和导电特性的扫描探针显微镜
机译:偏置扫描探针显微镜技术在BiFeO3和ZnO薄膜多功能表征中的应用