eddy currents; electrical contacts; failure analysis; vacuum interrupters; CuCr; Vickers hardness tester; X-ray diffraction; copper-chromium contact material; eddy current based conductivity meter; failure analysis; scanning electron microscopy; short-circuit current interruption; vacuum arc; vacuum interrupter; Conductivity; Contacts; Interrupters; Materials; Microstructure; Shape; Welding;
机译:126kV真空灭弧室CuCrTa和CuCr55触头材料的电性能研究。
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机译:真空灭弧室的CuCr25W1Ni2触头材料
机译:真空断路器CUCR触点的故障分析
机译:在高电流密度下,极性对p(+)-Si和n(+)-Si上Ni和Ni(2)Si接触失效的极性影响。
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机译:126KV真空断路器接触结构的研究与实验验证
机译:慢速轻载弹性 - 流体动力接触中薄膜厚度效应分析。第二部分。真空中薄膜厚度的测量。