Accelerated Life Testing; Arrhenius-Inverse Power Law model; Light-emitting diodes; reliability;
机译:在驱动电流和温度加速寿命测试下AlInGaP红色LED的降解
机译:使用基于Weibull的统计模型分析GaN LED的直流电流加速寿命测试
机译:测试高温超导电流引线的原型,用于测试NICA加速复合物的磁性元件
机译:加速寿命测试可指示温度和电流
机译:循环加载条件下碳填充聚碳酸酯的加速寿命测试
机译:标记为在2°C–8°C和25°C以下存储的催产素安瓿的温度稳定性:在受控的加速和温度循环条件下的观察性评估
机译:在驱动电流和温度下的AlInGap红色LED退化加速寿命测试