diffraction broadening; crystallite size; strain; truncation of profile;
机译:GaInNAs / GaAs双量子阱结构的X射线衍射测量与扩展因子的新分析方法
机译:如果位错和有限的微晶尺寸共同引起的衍射线展宽分析
机译:中子衍射测量Al2O3 / Y-TZP陶瓷复合材料的残余应力和衍射线扩大分析
机译:影响衍射扩大分析的因素
机译:衍射光学元件:性能因素研究
机译:如果位错和有限的微晶尺寸共同引起的衍射线展宽分析
机译:用X射线衍射与四方晶体系统具有四方晶体系统的多晶材料的应力 - 应变关系分析