device-parameter extraction; die-to-die variation; process variability; variation sensor; within-die variation;
机译:使用基于RO的传感器提取设备参数变化
机译:具有随机发生的传感器饱和和随机变化的传感器延迟的离散时间复杂网络的状态估计
机译:使用可重配置环形振荡器的片上阈值电压可变性估算
机译:考虑随机可变性的片上变化传感器的设备参数估计
机译:覆盖树木:马尔可夫随机场中地图估计的新变分界线。
机译:使用片上时间常数提取方法对1.1μm像素8.3 MP CMOS图像传感器中的随机电报噪声进行统计分析
机译:具有随机发生的传感器饱和和随机变化的传感器延迟的离散时间复杂网络的H-无穷状态估计