Monte Carlo; SRAM; failure probability; hypersphere sampling; importance sampling; mean shift; noise margin; norm minimization; yield analysis;
机译:高ΣSRAM产量分析的高效非高斯采样方法
机译:用于SRAM良率分析的高维和多失效区域重要采样
机译:具有多个失效区域的SRAM良率分析的重要边界采样
机译:稳健的重要性采样,可进行高效的SRAM良率分析
机译:设计和分析稳健的可变性SRAM,以预测最佳访问时间,以实现未来纳米级CMOS的良率提高。
机译:全面的分子采样技术为蛾类蛾提供了可靠的系统发育学(鳞翅目:蛾类)
机译:基于编译器的嵌入式SRAM阵列的产量分析