genetic algorithm; ordinal optimization; overkill; re-probe; wafer probe testing;
机译:应用PSO和OCBA最大限度地减少晶圆探针测试中的过大杀伤力和重新探测
机译:遗传算法在晶圆级测试多层探针卡设计优化中的应用
机译:应用遗传算法最大程度地减少漏油损害并优化清洗容器的位置
机译:应用遗传算法,以最小化晶圆探测器测试中的矫枉过正
机译:探针模块,用于通过电气和光学I / O互连对千兆级芯片进行晶圆级测试。
机译:将3D测量和计算机匹配算法应用于两个枪支检查能力测试
机译:混合遗传算法,用于最小化晶片探测调度问题的最大完成时间
机译:基于遗传算法的作战力评估模型的空中远征力结构鲁棒多场景优化