Energy Deposition; LET; Multiple Bit Error; Nuclear Reactions; Sensitive Volume; Soft Error Rate; Straggling;
机译:现代微电子学中软错误率计算的方法论
机译:用于微电子设备和集成电路的灵活而强大的软错误测试系统
机译:负责模拟中子微电子中的软错误的核反应模型
机译:现代微电子中软误差率计算方法
机译:设计和分析方法可减少纳米VLSI电路中的软错误。
机译:勘误:勘误:具有软判决解码器的容错量子计算用于纠错和通过隐形传送进行检测
机译:在SoC中使用基于UML的系统方法来分析软错误导致的系统故障率