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【24h】

Research on strength descent of wire bonding in the packing

机译:包装中引线键合强度下降的研究

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摘要

For microelectronics packaging, it connects the substrates with pin wire in the way of wire bonding for separate electronic components packing, and also called wire bonding technology. For a long time, rockii effect is thought as the normal invalid forms. But now the more and more study shows Kiekendall voids are the main factors that influence the bonding intensity. Aiming at the model SOT23 transistor, we analysis the form of Kiekendall voids of wire bonding.
机译:对于微电子封装,它通过引线键合的方式将基板与针线连接起来,以进行单独的电子组件封装,也称为引线键合技术。长期以来,洛克氏效应被认为是正常的无效形式。但是现在越来越多的研究表明,基肯德尔空洞是影响粘结强度的主要因素。针对SOT23型晶体管,我们分析了引线键合的Kiekendall空隙的形式。

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