Dept. of Power Electron. Control, Ilmenau Univ. of Technol., Ilmenau, Germany;
MOSFET; capacitance; commutation; power integrated circuits; channel current; commutation circuit; high voltage MOSFET; output capacitance current; switching losses; transient transistor capacitances;
机译:使用电容电压测量去除100 nm以下p-MOSFET的寄生电容
机译:界面陷阱和边界陷阱对InGaAs MOSFET中电流-电压,电容-电压和Split-CV迁移率测量的影响
机译:电容电压测量在确定纳米颗粒场效应晶体管界面粗糙度中的应用
机译:从动态测量确定高压MOSFET的瞬态晶体管电容
机译:使用低噪声分流电容-电压测量从亚100nm MOSFET去除寄生电容的新方法。
机译:分立工程用于嵌入式硅控整流器的高压60V n沟道横向扩散MOSFET的瞬态传感和可靠性改善。
机译:接口和边界陷阱对IngaAs MOSFET中电流电压,电容 - 电压和分裂 - CV移动性测量的影响
机译:用于确定高速开关晶体管中基极宽度的电容电压测量。