机译:评估嵌入式多孔硅层对外延层的整体寿命以及外延层/多孔硅界面处界面复合的影响
机译:CCD和CMOS成像器传感器的硅外延层:在线和离线金属检测技术的局限性和挑战
机译:多波长拉曼光谱在快速热退火过程中非接触监测硅衬底上掺硼外延Si1-xGex双层中Ge和B的扩散
机译:用于热成像应用的硅层外延铅硫属化物
机译:硅锗和硅锗碳外延层的电子和材料表征。
机译:调整用于外延生长的高质量种子的多孔硅层的应变和表面粗糙度
机译:通过多波长拉曼光谱在快速热退火过程中非接触式监测硅衬底上B掺杂外延si1-xGex双层中的Ge和B扩散
机译:研究外延硅层作为辐射硬化硅探测器的材料