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A 2 GHz cycle, 430 ps access time 34 Kb L1 directory SRAM in 1.5 V, 0.18 /spl mu/m CMOS bulk technology

机译:2 GHz周期,430 ps访问时间,1.5 V,0.18 / spl mu / m CMOS批量技术的34 Kb L1目录SRAM

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摘要

This paper describes a high speed L1 directory (34 Kb) with read access time below 430 ps and a cycle of 2 GHz in 1.5 V, 0.18 /spl mu/m CMOS bulk technology. The key features of this high performance dynamic design are fast static input/output interface with the provision of converting internal signals from static to dynamic and then back to static at the output, L1/L2 latches at the input, modular building blocks, pseudo-static circuits, robust timing plan and capability for extensive test pattern coverage and access time evaluation using a programmable "Array-Built-In-Self-Test" (ABIST).
机译:本文介绍了一种高速L1目录(34 Kb),其读取访问时间低于430 ps,在1.5 V,0.18 / spl mu / m CMOS批量技术中的周期为2 GHz。这种高性能动态设计的关键特征是快速的静态输入/输出接口,可将内部信号从静态转换为动态,然后在输出端转换回静态,在输入端使用L1 / L2锁存器,模块化构建块,伪静态电路,强大的时序计划以及使用可编程“阵列内置自我测试”(ABIST)进行广泛测试图案覆盖和访问时间评估的能力。

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