III-V semiconductors; gallium arsenide; gallium compounds; indium compounds; lenses; optical microscopy; semiconductor quantum dots; InGaAs; NAIL technique; high collection efficiency spectroscopy; numerical aperture increasing lens microscopy; single InGaAs quantu;
机译:在数值孔径增加的镜头显微镜中对单个量子点进行高分辨率,高收集效率
机译:为什么光致发光效率取决于量子点的励磁能量? 采用超快泵探针光谱和单粒子光谱的CDSE基芯/合金壳/壳量子点的案例研究
机译:高数值孔径透镜通过拉曼光谱定量分析透射电子显微镜样品中的应力松弛
机译:单量子点高分辨率和高晶体效率光谱的数值孔径增加透镜显微镜
机译:用空间相关的单分子荧光光谱和原子力显微镜表征硒化镉/硫化锌量子点簇的荧光间歇性。
机译:热透镜显微镜测定脂质体对CdSe / ZnS量子点的包封效率
机译:使用数值孔径增加透镜的宽场和共焦显微镜对集成电路进行次表面成像
机译:数值孔径中的高分辨率,高收集效率增加单个量子点的透镜显微镜。